2000年12月
      テクノス アクティブ・センシング3010H新発売についての記事が 「食品と開発」 に掲載されました。

      インライン外観自動検査システムテクノス アクティブ・センシング3010Hについての記事が 「月刊ディスプレイ」 に掲載されました。


  2000年10月
  18日   第24回 「紙パルプ技術協会 年次大会」に出展しました。
日時:2000年10月18日[水]〜10月19日[木]
会場:仙台国際センター 「桜」・「橘」ホール

  17日   従来の画像検査システムの精度を400倍にする技術に関する特許を日本で取得しました。
この特許はアメリカ、ドイツ、イギリス、スイス、フランス、オーストリア及び韓国では取得済みで、本拠地の日本が加わり、これでまさにテクノスの画像処理技術は国際特許を達成しました。--詳細--

  1日   生産工程への欠陥品を原因から排除するITシステム開発についての記事が「産業と環境」に掲載されました。


  2000年9月
      アクティブ・センシング3010H新発売についての記事が 「安全と管理」 に掲載されました。


  2000年7月
  19日   技術セミナーを開催しました。
会期:2000年7月19日[水]
会場:弊社会議室
主催:テクノス

  11日   高精度カメラで欠陥発見(テクノス アクティブ・センシング3010H)についての記事が 「日経産業新聞」 に掲載されました。

  5日   欠陥原因、元から絶つ(テクノス アクティブ・センシング3010H)についての記事が 「日刊工業新聞」 に掲載されました。

  5日   第10回 ファインプロセス テクノロジー・ジャパン に出展しました。
会期:2000年7月5日[水]〜7日[金]10:00〜17:00
会場:東京ビッグサイト 東展示棟 2−6
主催:リード エグジビション ジャパン株式会社
http://www.reedexpo.co.jp/ftj/

  1日   欠陥完封ライン構築テクノロジテクノス アクティブ・センシング3010Hについての記事が「M&E」7月号に掲載されました。


  2000年4月
      「月刊カートンボックス」 4月号 に弊グループ代表 山田吉郎のインタビューが掲載されました。


  2000年2月
      超高精度自動外観検査システムとその応用についての記事が「オートメーション」2月号に掲載されました。

      高度な画像処理を実現するテクノス トレンド・センシング3000Hについての記事が「M&E」2月号に掲載されました。


  2000年1月
  10日   「オートメレビュー」 1月号に掲載されました。

  5日   像処理大転換の年についての記事が 「オートメレビュー」 1月号に掲載されました。

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