| 太陽電池 |
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| シリコン系 | セル | バックシート | パネル | カバーガラス | ガラス | |
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| 基盤ガラス | 封止材 | 有機系 | 薄膜系 | モジュール | 等 |
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| 特長 |
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| ◆ | 薄膜・結晶シリコン素材はもちろん各種パネルの検査が可能です。 |
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| ◆ | セル、モジュール、アレイなど各種工程での検査が可能です。 |
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| ◆ | 太陽電池のカバーガラスや、ITO成膜ガラスなども検査可能です。 |
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| ◆ | トレンド・センシング技術によって、エンボス加工の影響を受けずに検査可能です。 |
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| 主な検出欠陥 |
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| 異物 | クラック | ソーマーク | 白点 | マイクロクラック | ピンホール | ||
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| ムラ | 欠け | 色ムラ | キズ | 膜ムラ | ゲル（透明異物） | ||
| 等 |
| 主な欠陥画像 |
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| ムラ | キズ | 汚れ |
| 詳細については、システム事業部にご連絡ください。 |
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| ＜御質問・お問合せ先＞ 株式会社テクノス |
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| 本社 TEL： FAX： URL： |
〒108-0014 東京都港区芝4-2-3 03-3453-9111 03-5484-6785 www.technos.jp |
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